正方晶ZrOを含むジルカロイ酸化膜の特性; ジルカロイ-4管の酸化膜

本橋 治彦; 古田 照夫

JAERI-M 83-132, 15 Pages, 1983/08

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ジルカロイ-4管が水素・水蒸気の混合気流中、1000Cで酸化した時に生成する層状酸化膜の特性を20C~1300Cの温度でX線回折法により調べた。室温におけるX線回析図形の解析から、正方晶ZrOを含む層状酸化膜中の単斜晶ZrOは340の小さな結晶子となり0.03%の大きな格子歪を持ちそして111の格子面間隔が標準物質より0.7%大きくなっていることを明らかにした。また高温X線回折から正方晶ZrOを含む層状酸化膜中の単斜晶ZrOはゆるやに相変化を起こすことがわかった。この相変化の起こる温度は正方晶ZrOを含まない酸化膜中の単斜晶ZrOの相変化温度より低くなっている。これらの事実から正方晶ZrOを含む層状酸化膜の生成は酸化膜の結晶子の微細化と大きな格子歪か生じる事と相関性があることを明らかにした。

Structural changes on hot-rolling of polyethylene, 2; Crystallite size distribution and lattice distortions

依田 修; 栗山 将

J.Polym.Sci.,Polym.Phys.Ed., 15(5), p.787 - 793, 1977/05

高温(100C)で圧延したポリエチレン(PZ)の[100]方向における微結晶サイズの分布と格子歪を、PZ200プロフィルの解析によって求めた。圧延比の小さな領域では、微結晶の[100]方向の破壊が起るが、圧延比の大きな領域では破壊は起らない。前報(?)の結果と併せて、圧延比の小さなところでは、微結晶の配向は、結晶内スリップによって、圧延比の大きな領域では結晶間スリップによって微結晶が配向することを明らかにした。 格子歪には、圧延による差異は認められなかった。これは変形温度が高いことによるものと思われる。

Crystallite size distribution and lattice distortions in polyethylene from analyses of Debye-Scherrer line profiles

依田 修; 土井 健治; 田村 直幸; 栗山 将

Journal of Applied Physics, 44(5), p.2211 - 2217, 1973/05

https://doi.org/10.1063/1.1662539

ポリエチレン結晶の(110)面に垂直な方向の微結晶サイズの分布と格子歪を110デバイ-シエラ-線のプロフィルを解析することにより求めた。用いた試料はリニアポリエチレンの粉末、単結晶マット及び分岐度の異なる数種類のブランチポリエチレン粉末である。微結晶サイズの分布には試料に共通に100、250、350および450に極大を生じるが、分岐度の最も多い試料では350と450のピークは消失する。格子歪に関しては、ポリエチレン結晶のそれは単にパラクリスタル的ともストレインタイプともいえず、一般的には両者の重ね合せで説明できることがわかった。

Interpretation of line profiles by the Fourier method, with special reference to the size distribution of carbon black crystallites

土井 健治

Acta Crystallographica, 14(8), p.830 - 834, 1961/00

https://doi.org/10.1107/S0365110X61002424

抄録なし